晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
美国鲁道夫公司Autopol V旋光仪
鲁道夫公司新技术Autopol V型电控温旋光仪,不仅具备Autopol IV自动旋光仪的所有功能,而且其特有的内置恒温装置使仪器无须外接水浴即可实现10-40℃范围内任意温度的测量。
混合气氛的制造和测量系统
 FLEXIDOSE G MIXFlexiDOSE G Mix可以针对气态混合物采用体积法方式进气。利用对物质的定量分析手段,测量气相的选择性反应平衡,并可以对分离过程的性能进行分析。
多点高压耐压测试仪
德国EA—Electronic (HCK) 耐压测试仪(HVP / MHP) 是EA公司的经典产品,相关产品多达15款。该设备应用领域广泛,可应用于变压器、电线电缆、电机、医疗设备,家用电器及其他一切要求进行安规测试的设备,同时也是科研实验室和技术监督部门不可缺少的实验设备。
冷热冲击试验机/冷热冲击试验箱
用途 适用于電子、電工産品和其他軍用設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的适 應性試驗,也是篩選電子元器件初期故障的佳助手。 執行與滿足标準