ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方，zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。

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三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），全面确保操作人员人身安全，避免意外操作带来的辐射伤害

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。

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多多晶体物质进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试

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X-MET 手持式 X 射线荧光光谱仪专为以下应用而设计： 材料可靠性鉴定(PMI)  金属鉴定/废旧金属分拣  合金分析及有害物质分析（RoHS筛选）  受污染土壤重金属分析及采矿现场矿石分析  玩具中含铅筛选  涂料中铅检测 

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测试元素 As Sb Bi Pb Zn Te Se Zn Ge Cd Hg 检出限（DL）ng/mL ＜0.01 ＜1.0 ＜0.05 ＜0.001 重复性（RSD） <0.9 线性范围 大于三个数量级 道间干扰 0

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