蔡司关联扫描电镜—拉曼成像平台（RISE）
蔡司关联扫描电镜—拉曼成像平台（RISE）将共聚焦拉曼成像系统（CRM）集成在SEM舱室中。具有优异表面分析能力的SEM成像与Raman分析功能优势结合，助力您的研究更上一层楼。
蔡司Crossbeam系列双束电镜（FIB-SEM）
蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。
S-4800扫描电子显微镜
S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s
蔡司多束扫描电子显微镜
蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM505是专为半导体、生物等样品的大面积高分辨率成像开发的极高通量SEM，可以实现大尺寸样品的纳米级分辨率成像，同时具有高效的成像效率和数据采集速度，自动获取大面积高分辨率图像也更加方便快捷。
TESCAN GAIA3电镜系统
TESCAN GAIA3电镜系统完美的集成了超高分辨率的电子光学系统和高性能的离子束系统，二者配置于同一样品室上。GAIA3电镜以MAIA3场发射扫描电镜为平台，在保留MAIA3优越性能的基础上，增加了使用聚焦离子束进行样品表面处理的功能。
INANO纳米压痕仪 电镜纳米压痕仪 高精度，高灵敏
Inano 能轻松的为客户提供准确的，高精度的，可重复的数据。而价格极为经济实用。Inano设计精巧，占用空间小，能在2h内为目前几乎所有材料提供精确测试数据。
TESCAN RISE扫描电镜
RISE扫描电镜将拉曼光谱分析与扫描电子显微镜分析集成为一体，在获得样品微观形貌的同时，可对同一区域进行拉曼光谱检测，这一过程都是自动且样品一直处于高真空状态下，不仅保证结果的高度准确性，同时避免了环境或移动样品时可能造成的污染。该仪器已获得了2014年分析